分析機器・装置操作盤用

2014年 2月 14日

パネル-H250
物質の組成、性質、構造、状態等を測定する分析機器・装置に使用する各種銘板の製作

 

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画像-パネル-H671

 

<分析機器・装置>

◆赤外分光法、近赤外線分光法、ラマン分光、核磁気共鳴スペクトル法、質量分析法、X線スペクトル法、X線回折法など。

◆赤外分光法・・・分子構造状態をしるため物質に赤外線を照射、光を分光対象物の情報・信号成分に分解特性を知る方法。

近赤外線分光法・・・近赤外線を照射、吸収度合変化成分算出。間接測定、成分値と吸光度を関連付けた計算式の作成。

◆ラマン分光・・・物質に振動数の波長のみ光の波の単色光当て散乱され光の中に入射された光の波長と異なる波長測定。

◆核磁気共鳴スペクトル法・・・外部静磁場原子核が固有の周波数電磁波と相互作用する現象分子構造運動状態を調べる。

◆質量分析法・・・2つ以上の原子から構成される電荷的に中性な物質の分子やイオンの質量電荷比を求める方法。

◆X線スペクトル法・・・電子、分子の物質の状態や電子の状態などを求めるために使われている手法。

◆X線回折法・・・波長が1ピコメートルから10ナノメートル程度の電磁波空間の電場と磁場の変化によって形成される波動。

◆一酸化炭素分析計、硫黄酸化物分析計、酸素分析計、窒素酸化物分析計硫化水素分析計。

◆自動車排ガス用分析装置、大気汚染総合監視装置。

◆オキシダント・オゾン分析計炭化水素分析計、アンモニア分析計、浮遊粒子状物質濃度計。

◆環境大気用複合分析計、ばいじん濃度計、ふっ素・ふっ素化合物分析計、硫化水素分析計など。

大気汚染分析装置等で利用する各種銘板の製作。